「放電研究」 第46号 (昭和47年2月)

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ガスプラズマ中のプローブ測定シンポジウム

I Langmuirプロ一プ
プロ-プによる無衝突プラズマ密度の決定法 : 土手 敏彦(理研) ・・・ 1
平板プロ-プの遮蔽効果 : 鄭 信力、張 仁士(武蔵工大)・・・ 9
ラングミュアプロ-プによる電子温度測定の信頼性について : 平尾邦雄、小山孝一郎、三留重夫(宇宙研)・・・ 17
非周期サンプリングによる過度プラズマのプロ一プ測定 : 南 一男、武田 進(名大)・・・ 20

Ⅱ 磁場中プロ-プ
磁揚中プラズマ電位の測定 : 赤崎 正則、渡辺 征夫(九大)・・・ 27
弱磁場中での探針測定 : 石塚 浩、大野久雄(東教大)・・・ 35
プロ-ブによるイオンエネルギーの測定 : 石井成行、三好昭一(理研)・・・ 40

Ⅲ 高周波プロ一プ
RFプロ-プ : 江尻全機(宇宙研)、麻生武彦(京大)・・・ 47
高周波プロ-プの理論 : 麻生 武彦(京大) ・・・ 65
Two Wire Probe法 : 森 弘隆、宮崎 茂(電波研)・・・ 71
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